OLympus MX61的设计特点　　MX61 设计特点 　　考虑了检查效率的设计　　主要操作集中配置在前面板上　　在对比度的决定上起重要作用的孔径光阑（AS）的开闭调节，与物镜的切换和观察模式连动，用一个按钮就可以操作。此外，用一个手指就可以调光的旋钮也配置在前面板上，从而提高了检查速度。物镜和孔径光阑（AS）的按钮分别斜向配置，手不离开对焦手柄，只要轻动大拇指就可以操作。这个按钮的倾斜式设计提高了手指尖的感知度，能够防止错误操作。　　观察姿势迅速到位的倾斜镜筒　　为了使用视点而调整座椅的高度，或是以不合理的姿势进行检查的话会浪费时间，降低工作速度。但是，配备倾斜角度为0°-42°(可变高度为150mm,SEMI S8）的倾斜镜筒，可采取与检查者体格无关的舒适观察姿势，甚至可以站立检查。此外，这一款镜筒拉长了从观察中心轴到观察者视点的距离，可以在较大的平台上轻松操作。　　高灵敏度载物台可以迅速决定位置　　对应300mm晶圆/17英寸面板的MX-SIC1412R2载物台有较大的透射照明范围（Y方向284mm）。另外，内置离合器的载物台手柄，可切换粗调和微调。在显微镜观察的同时能自由地移动载物台，快速完成检查。

BX51M的主要性能特点说明　　产品性能特点　　BX51M让工作流程精简高效　　创建个人专属的OLYMPUS系统　　轻松扩展至未来的应用程序　　透反两用研究系统显微镜，涵盖所有观察方式　　新的光路设计， 12V/100W 光源　　明场，暗场，偏光，微分干涉相衬，荧光观察方式可选　　可连接多种胶片或数字照相系统　　使用万能物镜实现明场、暗场、荧光、微分干涉、偏光的各种观察　　出类拔萃的明视野显微镜图像质量　　优秀的荧光观察功能， 100W 汞灯的有效光强比原来增加一倍　　解像度和对比度鲜明的诺曼斯基微分干涉衬比法观察　　放大倍率 50×～1000×　　高刚性的 Y形镜体结构提供 极高的稳定性及系统灵活性　　易于连接数码照相及视频成像设备　OLYMPUS 金相显微镜BX51M 拥有多种显微镜型号和各种附件，结合卓越的光学性能。

BX53M的性能优势说明　　产品性能优势　　为工业和材料学应用而设计　　BX53M系列采用了模块化设计，为广泛的材料学和工业应用提供了多样化的解决方案。BX53M根据工业和材料学的不同应用，可以组合成反射显微镜、透反射显微镜、红外显微镜、偏光显微镜等多种应用的显微镜。　　高级的显微观察 便捷的显微操作　　用户友好性　　简单的、向导式的显微镜操作设置，使用户更容易进行调节，并复制系统设置。　　功能性　　奥林巴斯BX53M金相显微镜为传统的工业显微镜检查而设计，并扩展了其功能，以满足更广泛的应用和检查技术的要求。　　精密的光学元件　　奥林巴斯公司具有生产高质量光学元件的悠久历史，无论用目镜观察，还是通过显示器观察，都具备一流的图像画质。　　全面可定制性　　模块化设计可以为用户灵活地构建满足其特殊要求的系统。　　直观的显微镜控制舒适而便于使用　　显微检查任务常常需要用很长的时间来调节显微镜设置、获取图像，以及进行必要的测量，从而得到令人满意的报告。用户有时需要投入时间和金钱去完成专业的显微镜培训，或只了解了显微镜全部功能的很小部分就开展工作。更多详细内容可搜索上海富莱光学科技、奥巴仪器。　　奥林巴斯BX53M金相显微镜通过其优良的设计和便捷的控制功能，简化了复杂的显微检查任务。用户不需要长时间的培训即可掌握显微镜的大多数功能。BX53M方便而舒适的操作还改善了图像的再现性，大程度减少了人为错误。

OLYMPUS BX53M金相显微镜的调试及使用方法 在新一代OLYMPUS BX53M显微镜中，具备了多种功能，能进行多种显微镜检方法观察，正确的试调方法和使用方法就显得尤为重要。下面以万能研究显微镜为例，简述调试及使用方法。  1. OLYMPUS BX53M显微镜照明光路系统的调整  为了使显微镜的视野能受到均匀而又充分的照明，在显微镜初次安装和调试时，就必须把照明光路系统调整好。此外，正确掌握照明光路系统的调整，是使用显微镜过程中更换光源灯泡后所必经的步骤，也是在日常使用过程中不时地检验显微镜性能的必要手段。显微镜照明光路系统的调整主要有以下4项内容：  (1) 照明光源灯室在显微镜外的初步调整  ① 首先将灯室的外壳打开，压弹簧夹子将卤素灯泡装入插座中，安装时避免手指直接接触灯泡(可用柔软的布或纸隔住)，以免灯泡上留有指纹等脏物，影响灯泡的使用寿命。  ② 把灯室摆在桌面上，接通电源后，用专用的螺丝刀调节灯的调焦旋钮孔(标有“←→”)，使灯丝投影在1-2m外的墙上，将灯丝成像调至清晰;然后调节灯的高低位置调节丝孔(标有“──”)，使灯丝位置高低适当;再调节灯的左右位置调节螺丝孔(标有“──”)，使灯丝左右位置合适。  (2) 光源发光体(灯丝)在显微镜内位置的检验和校正 目的是为了把发光体的像端端正正地调入物镜的视域范围内，从光源的角度去确保显微镜的视域受到充分而均匀的照明，这是调整库勒照明系统的前提条件。需要的基本工具：对中望远镜购置显微镜时已配备。  ① 拔掉灯库内的毛玻璃套筒，把灯室装回显微镜上;  ② 选用10×物镜，开亮光源程序找样品并调焦清晰，再换用40×物镜把样品调焦清 晰(40×物镜可以看清灯丝的全貌);  ③ 把聚光镜的孔径光阑和视场光阑均开到大;  ④ 拔掉其中一个目镜，换上对中望远镜，抓住白色部分，另一手伸缩黑色接目镜，就可在视野中看到灯丝像;  ⑤ 如灯丝位置不合适，调“──”孔，把灯丝像沿水平方向调好，调“──”孔，把丝像沿垂直方向调好，直至将灯丝像调至刚好充满物镜孔径的光圆像;  ⑥ 调整完毕后，将毛玻璃套筒插回原位，拔掉对中望远镜，换回目镜作下一步调整。以上所述照明光源灯室在显微镜外的调整和光源发光体在显微镜内位置的校验，只需在显微镜初次安装调试及更换灯泡时进行，平时使用显微镜时不能随意乱调乱动。万一调乱时，可按上述步骤调回原状。  (3) 库勒照明(Kohler)系统的正确调整 OLYMPUS BX53M显微镜的正确调试，主要工作之一是照明光路系统的调整，而其中的关键是库勒照明系统的调整。对于每一位使用显微镜的人员，特别是作显微照像的人员来说，应该对库勒照明系统的原理及其调整步骤有一定的了解和掌握，才能充分发挥显微镜应有的功能，拍出来的照片才能在效果上比较一致而又完善。库勒照明系统的原理简单来说就是：光源发光体上任意一点发出的光，可以照明显微镜的视域范围，而光源发光体上每一点所发出的光汇集起来，在显微镜的视域中就实现了非常充分而又均匀的照明。调整库勒照明系统的目的，是为了使所观察的视域能获得均匀而又充分的照明，防止杂散光对照像系统造成影响或干扰，以免照像时在底片形成灰雾。高调整库勒照明系统的必要部件：视场光阑、可进行合轴调整的聚光镜系统。  ① 选用10×物镜和10×目镜;  ② 把聚光镜前端透镜摆进光路中，孔径光阑调至适中的位置上(不大不小)，再把聚光镜升到顶的位置上，聚光镜转盘调至明视野“J”位置;  ③ 把视场光阑调至小(0.1);  ④ 载物台上放上已封片的生物样品，开亮光源，调焦清晰;  ⑤ 视域中会出现一个局部照明的区域或亮斑，这是视场光阑的模糊像，在其中可以清晰地看到样品的细节;在它之外是较暗的视域，不一定能把样品的细节看得清楚;  ⑥ 把聚光镜微微地向下调，使视野中的亮斑逐渐收小，慢慢变成一个清晰的多边形象，这便是视场光阑的清晰像;  ⑦ 一般情况下，多边形象并不在视域中央，需要调整聚光镜的一对调中螺丝，把视场光阑多边形的像调至中央位置;  ⑧ 逐渐开大视场光阑，使多边形象成为视域的内接多边形，进一步核对调中的状况，如对中不够理想，继续微调对中螺丝;  ⑨ 将视场光阑稍为再微微开大一些，使它的多边形象恰好消失在视域的边缘上，至此，库勒照明系统调整完毕。库勒照明系统调整好以后，整个视域照明均匀，拍摄的显微照片明亮清晰，反差正常。在日后使用过程中应特别注意： a. 视场光阑不可任意开大，但可随物镜倍数的增大而将视场光阑收小，随物镜倍数的减小而开大; b. 聚光镜的高低位置不准乱调，否则会破坏已调整好的库勒照明系统; c. 使用10×以下物镜时要将聚光镜前端透镜摆出光路外，使用10×或10×以上物镜时要将前端透镜摆入光路中; d. 关于物镜倍数与视场光阑大小配合问题，在实际使用过程中，作为一般观察不一定要收小或开大视场光阑，但作显微照相时，为了避免杂散光线对照相系统的干扰，以便能拍摄到较完善的照片，则应在使用每一个倍数的物镜时，把视场光阑调节到正好消失于所观察的视域边上，这是比较繁复的工作，但又非做不可。较为简便的方法是把与各个倍数物镜相对应的视场光阑事先调整好，并作好记号，以后使用时根据记号直接调至相应的位置。  (4) 孔径光阑的正确使用 由于聚光镜的孔径光阑可以影响显微镜的分辨率，使用时应掌握正确的使用方法。过去由于对孔径光阑的认识不足，往往把它当作是调节视野亮度的工具。虽然调节孔径光阑在一定程度上可以改变视野的亮度，但会直接影响成像的反差、对比度及分辨率，在使用过程中应尽可能避免。为了发挥聚光镜孔径光阑的作用，以便在观察时，尤其在作显微照相时获得佳分辨率，在每换用一个倍数的物镜时，在样品调焦清晰后，需要调节孔径光阑，使它的大小正好等于所用物镜数值孔径(物镜孔径像)的2/3 。调整方法是用对中望远镜对焦于视野中黑色相差环上，调节孔径光阑，可以看到一个多边形的孔径光阑像，然后调到等于物镜孔径像的2/3，即介于黑色相差环外与圆形视域内之间。为方便起见，可把与各倍数物镜相对应的孔径光阑预先调整好，并作好标记，以免每次使用都要重新调整。  2. OLYMPUS BX53M显微镜成像光路系统的调整及显微镜检术概要  显微镜成像光路系统的调整，是根据不同显微镜检术的需要而进行的。所谓显微镜检术(microscopy)，概括而言就是以显微镜观察样品时所使用的照明方法，以及如何使样品所成的像能获得更良好反差的技术与方法。以下简述显微镜检术中已成熟的几种方法及对应的显微镜成像光路系统的调整方法。

金相显微镜是一种常用的实验室分析仪器，可以将光学显微镜技术、光电转换技术、计算机图像处理技术完美结合，被广泛用于实验室中。金相显微镜的工作原理是什么呢?下面小编就来具体介绍一下，希望可以帮助到大家。金相显微镜工作原理 放大系统 是影响显微镜用途和质量的关键。主要由物镜和目镜组成。 显微镜的放大率为： M显=L/f物×250/f目=M物×M目 式中[m1] M显——表示显微镜放大率;[m2] M物、[m3]M目 和[f2]f物、[f1]f目 分别表示物镜和目镜的放大率和焦距;L为光学镜筒长度;250为明视距离。长度单位皆为mm。 分辨率和象差透镜的分辨率和象差缺陷的校正程度是衡量显微镜质量的重要标志。在金相技术中分辨率指的是物镜对目的物的小分辨距离。由于光的衍射现象，物镜的小分辨距离是有限的。德国人阿贝(Abb)对小分辨距离d提出了以下公式 d=λ/2nsinφ式中λ为光源波长; n为样品和物镜间介质的折射系数(空气;=1;松节油：=1.5);φ为物镜的孔径角之半。 从上式可知，分辨率随着和的增加而提高。由于可见光的波长[kg2][kg2]在4000～7000之间。在[kg2][kg2]角接近于90的有利的情况下，分辨距离也不会比[kg2]0.2m[kg2]更高。因此，小于[kg2]0.2m[kg2]的显微组织，必须借助于电子显微镜来观察(见)，而尺度介于[kg2]0.2～500m[kg2]之间的组织形貌、分布、晶粒度的变化，以及滑移带的厚度和间隔等，都可以用光学显微镜观察。这对于分析合金性能、了解冶金过程、进行冶金产品质量控制及零部件失效分析等，都有重要作用。 象差的校正程度，也是影响成象质量的重要因素。在低倍情况下，象差主要通过物镜进行校正，在高倍情况下，则需要目镜和物镜配合校正。透镜的象差主要有七种，其中对单色光的五种是球面象差、彗星象差、象散性、象场弯曲和畸变。对复色光有纵向色差和横向色差两种。早期的显微镜主要着眼于色差和部分球面象差的校正，根据校正的程度而有消色差和复消色差物镜。随着不断发展，金相显微镜对象场弯曲和畸变等象差，也给予了足够的重视。物镜和目镜经过这些象差校正后，不仅图象清晰，并可在较大的范围内保持其平面性，这对金相显微照相尤为重要。因而现已广泛采用平场消色差物镜、平场复消色差物镜以及广视场目镜等。上述象差校正程度，都分别以镜头类型的形式标志在物镜和目镜上。 光源 早的金相显微镜，采用一般的白炽灯泡照明，以后为了提高亮度及照明效果，出现了低压钨丝灯、碳弧灯、氙灯、卤素灯、水银灯等。有些特殊性能的显微镜需要单色光源，钠光灯、铊灯能发出单色光。 照明方式金相显微镜与生物显微镜不同，它不是用透射光，而是采用反射光成像，因而必须有一套特殊的附加照明系统，也就是垂直照明装置。1872年兰(V.vonLang)创造出这种装置，并制成了第一台金相显微镜。原始的金相显微镜只有明场照明，以后发展用斜光照明以提高某些组织的衬度

OLYMPUS BX53M电路板品质的好坏、问题的发生与解决、制程改进的评估，在都需要切片做为客观检查、研究与判断的根据。切片质量的好坏，对结果的判定影响很大。切片分析主要用于检查PCB内部走线厚度、层数，通孔孔径大小，通孔质量观察，用于检查PCBA焊点内部空洞，界面结合状况，润湿质量评价等等。切片分析是进行PCB/PCBA失效分析的重要技术，切片质量将直接影响失效部位确认的准确性。OLYMPUS BX53M切片步骤：取 样(Samplc culling)→封 胶(Resin Encapsulation)→研磨(Crinding)→抛 光(Poish)→微蚀(Microetch)→观察（Inspect）依据标准：制样：IPC TM 650 2.1.1,评判：IPC A 600, IPC A 610典型图片：

清洁度分析系统说明　　1）显微镜类型：正立式金相显微镜； 2）放大倍数：放大12.5、25、50、100、200倍； 3）光源类型：12V100W卤素灯； 4）视场数：22； 5）照明方式：反射光，柯勒照明； 6）观察方法：明视场、偏振光； 7）物镜转盘：5孔物镜转盘； 8）物镜类型：平场半复消色差物镜　　清洁度分析系统将滤有污染物颗粒的滤纸放在显微镜下，利用电动扫描台在整个滤片范围内自动拍摄显微照片，通过软件将照片自动拼接后得到整个滤片表面的完整图像。然后参照相关标准，对污染物的颜色、尺寸、形状等参数进行分类，并对特定类型的污染物进行筛选、统计，了解零件表面或润滑油、液压油等液体中的杂质颗粒情况，以达到控制产品质量的目的。