OLYMPUSBX53显微镜 用于观察和研究金属材料、非金属材料等行为组织结构的测验技术。其原理是通过金相制样设备对试样表面进行研磨、抛光，然后经过腐蚀后将其显微组织的形貌展现出来。在金相显微镜下，观测金相组织及冶金缺陷。以此来研究金属及其合金中各种相得大小、分布、数量及状态。 　　　　 OLYMPUSBX53显微镜的使用技巧 ：　　　　1.持镜时必须是右手握臂、左手托座的姿势，不可单手提取，以免零件脱落或碰撞到其它地方。　　　　2.轻拿轻放，不可把显微镜放置在实验台的边缘，应放在距边缘10cm处，以免碰翻落地。　　　　3.保持显微镜的清洁，光学和照明部分只能用擦镜纸擦拭，切忌口吹手抹或用布擦，机械部分用布擦拭。　　　　4.水滴、酒精或其它药品切勿接触镜头和镜台，如果沾污应立即用擦镜纸擦净。　　　　5.放置玻片标本时要对准通光孔中央，且不能反放玻片，防止压坏玻片或碰坏物镜。　　　　6.要养成两眼同时睁开观察的习惯，以左眼观察视野，右眼用以绘图。　　　　7.不要随意取下目镜，以防止尘土落入物镜，也不要任意拆卸各种零件，以防损坏。　　　　8.使用完毕后，必须复原才能放回镜箱内，其步骤是：取下标本片，转动旋转器使镜头离开通光孔，下降镜台，平放反光镜，下降集光器(但不要接触反光镜)、关闭光圈，推片器回位，盖上绸布和外罩，放回实验台柜内。

激光共聚焦显微镜 配备的两套光学系统（彩色成像光学系统和激光共焦光学系统）让其能够获取彩色信息、高度信息和高分辨率图像。彩色成像光学系统使用利用白光LED光源和CMOS相机获取彩色信息。激光共焦光学系统采用纳米激光二极管光源和高灵敏度光电倍增管获得共焦图像。浅焦深使其能够用于测量样品的表面不规则性。光学显微镜的横向分辨率随着波长的减小而获得提升。采用短波长激光的激光显微镜相比采用可见光的传统显微镜具有更优的横向分辨率。显微镜利用纳米短波长激光二极管获得卓越的横向分辨率。 　　激光共聚焦显微镜激光共焦光学系统仅接收通过圆形针孔聚焦的光线，并非采集从样品上反射和散射的所有光线。这样有助于消除模糊，让其能够获得比普通显微镜对比度更高的图像。显微镜配有奥林巴斯光学扫描仪。通过将采用电磁感应MEMS谐振扫描仪的X轴与采用Galvano扫描振镜的Y轴相结合，能够让X-Y扫描仪定位于相对物镜瞳镜共轭的位置，因而能够实现具有较低扫描轨迹失真和较小光学像差的卓越X-Y扫描。　　激光共聚焦显微镜在测量高度时，显微镜通过自动移动焦点位置获取多个共焦图像。根据非连续的焦点位置和检测光强度可以估算每个像素的光强变化曲线，并获得其峰值位置和峰值强度。由于所有像素的峰值位置与样品表面的不规则性相对应，因此可以获得样品表面的3D形状信息。与此类似，通过峰值强度数据可以获得针对样品表面所有位置焦点的图像。

半导体通过使用精密工艺进行制造。引线键合是其中一项制程，使用焊接金线、铝线或铜线将集成电路上的电极连接至引线框架。引线直径可能小至10微米，而且焊接精度需精确至2到3微米。焊接引线所需的精度等级意味着：即使轻微的振动也有可能造成接合不良，错位或接触不劳从而导致电子器件故障或失效，甚至引发整个电子部件的功能。制造商会检验半导体中的引线键合是否有缺陷，如引线断开、引线间距偏移、接合分离或剥离以及移位。因为半导体以大批量方式制造，因此一般用高速、自动化设备进行检验，提供每个芯片的结果（“合格/不合格”）。会从生产线中挑出半导体不良品，由质控部门使用光学显微镜或超景深数码显微镜进行详细检查。 　　超景深数码显微镜的电动变焦光路结合了先进的观察功能，可实现六种观察方法和对比度增强功能：明场、暗场、MIX、偏光、简易偏振和微分干涉。偏光观察和对比度增强功能可以突出样品表面的不规则和轮廓形貌。例如，此功能可用于在观察晶圆表面较大的不规则形状与细微破损和划痕之间快速切换。从而用户可以观察到使用其他方法难以检测到的对象。 　　超景深数码显微镜的成像质量更好、效率更高、机械性能更加稳定，并且更加环保。这是一款为工业质量控制领域及高端研究方向的客户提供的一项全新解决方案。可对样品进行三维成像，数码变倍及光学变焦、让数码显微镜实现了无极连续变倍，并可快速便携地对样品进行二维、三维的观察和测量。

Nikon MM800显微镜采用LED照明，计数器有双轴和三轴两种，根据镜筒、照明装置、升降机构、物镜，以及对焦机构的选择不同，有M、T、LT、LMT、LFA、LMFA、U、LU、LMU等多种子型号可供用户选择。大可搭载尼康的12X8型测量载物台。该载物台的行程为300(X)×200(Y)mm，大承载能力达20Kg；可接数据处理器或测量软件E-MAX(其中DS套需配CCD，支持视象测量)；U型机种还支持各种金相观察。 　　Nikon MM800显微镜部分常用子机型配置说明： 　　LMFA型：Z轴配有光栅尺，可以进行电动升降。所配镜筒为FA型，具有辅助对焦功能，可以进行更为准确的Z方向测量。 　　LM型：Z轴配有光栅尺，可以进行电动升降，可以进行Z方向测量。 　　LFA型：Z轴配有光栅尺。所配镜筒为FA型，具有辅助对焦功能，可以进行更为准确的Z方向测量。 　　LT型：Z轴配有光栅尺，可以进行Z方向的测量。更多详细内容请咨询上海富莱光学所配镜筒为三目镜筒，能够加装数码相机等摄影装置。 　　U型：光学头采用LV型金相显微镜模块搭建而成，不仅能够进行尺寸测量，还能进行明场、暗场、简易偏光、微分干涉等多种模式的金相观察。 　　LU型：Z轴配有光栅尺，可以进行Z方向的测量。光学头采用LV型金相显微镜模块搭建而成，可以进行明场、暗场、简易偏光、微分干涉等多种模式的金相观察。 　　M型：配备单目镜筒，该镜筒没有摄影口，所以不能装备数码相机等摄影装置。 　　关于Nikon MM800显微镜的介绍就到这里了，希望这篇文章能对你有所帮助！

Nikon LV100ND是一款高性能偏光显微镜，配有可在高达400倍放大倍率下进行色散染色观察的配件。采用具有高消光系数的光学元件，便于检测和观察高精度光学特性。经过不断的发展完善并配备了新的光学系统和功能，可根据观察方法和目的选择支架装置和照明装置以满足多种观察需求。用户可选择使用电动和手动操控模式以及反射照明专用模式和反射、透射组合照明模式以满足任何应用需求。可满足多领域的工业应用，其中包括半导体器件、封装、FPD、电子器件、材料和精密模具制造等。 　　Nikon LV100ND显微镜机身采用模块化制造，完全可旋转的圆形刻度载物台可在极化观察期间提供无故障的样品旋转和精确分析。 　　经过改进的光学性能，以独特的高数值孔径和长工作距离设计理念而著称的尼康CFI60光学系统经过进一步改进，具有一流的长工作距离、色差校正性能和更轻的重量。 　　轻松的操作，与数码相机集成现可使用数码控制装置来检测包括物镜信息在内的显微镜信息，以及对显微镜进行电动操作，以更高效地进行观察和图像拍摄。 　　观察方法，可支持多种观察方法：明场、暗场、偏光、微分干涉、落射荧光和双光束干涉测量观察功能。此外，还可提供透射型微分干涉、暗场、偏光和相衬观察功能。 　　关于Nikon LV100ND的介绍就到这里了，相信看完这篇文章，你一定知道它具有哪些功能了吧！

Nikon LV150N 显微镜机身采用模块化制造，可满足多领域的工业应用，其中包括半导体器件、封装、FPD、电子器件、材料和精密模具制造等。LV-N系列显微镜经过不断的发展完善并配备了新的光学系统和功能，可根据观察方法和目的选择支架装置和照明装置以满足多种观察需求。用户可选择使用电动和手动操控模式以及反射照明专用模式和反射、透射组合照明模式以满足任何应用需求。 　　Nikon LV150N显微镜使用了新的光学系统尼康CFI60，以独特的高数值孔径和长工作距离设计理念而著称，经过改进的光学性能，使其具有更高的性能。经过进一步改进，具有长工作距离、色差校正性能和更轻的重量。轻松的操作与数码相机集成，可使用数码控制装置来检测包括物镜信息在内的显微镜信息，以及对显微镜进行电动操作，以更高效地进行观察和图像拍摄。　　　　Nikon LV150N可支持多种观察方法：明场、暗场、偏光、微分干涉、落射荧光和双光束干涉测量等。　　明场半导体（IC晶片）从物镜到照明系统，LV-N系列采取了全方位的防眩光措施，确保生成明亮、高对比度的图像。　　暗场半导体（IC晶片）采用尼康独特设计理念开发的物镜暗场照明系统可实现明亮的暗场观察，从而可对标本差异和缺陷进行高灵敏度的检测。　　落射DIC基板可使用适合标本观察的标准型和高对比度型DIC插片。LV-N系列十分适合观察设备和精密模具中的细微差异等应用。　　落射荧光基板（焊点）LV-N系列在观察有机EL或安装的基板等具有荧光性质的标本时表现出了卓越的性能。

奥林巴斯显微镜 MX63/MX63L是一款工具显微镜，它是首个支持奥林巴斯MIX照明功能的产品，由此进一步提升了该显微镜的观察能力。MIX可将暗场与明场、荧光或偏振等其他观察方法结合使用。在很多应用中，MIX能够帮助用户观察到使用传统微镜难以看到的缺陷。 　　奥林巴斯显微镜配备了高强度白光LED光源，兼顾低功耗和长寿命的优点，而且其稳定的色温为可靠的图像质量和精确的色彩复现提供了保障。显微镜还可以选配晶园搬送机，实现可靠、安全、高效的对晶圆正面和背面进行检测。凭借这些强大的观察功能和简单的操作特性，显微镜能够实现快速高效的实现大尺寸样品检测。特别适用于半导体、平板显示、印制电路板等行业的大尺寸样品检测。　　奥林巴斯显微镜的模块化设计让检测者能够根据应用需要选择组件。两款显微镜均按洁净室应用而设计，并符合SEMIS2/S8、CE和UL要求。所有电动组件均安装在屏蔽结构内，镜架、镜筒以及其他部件均经过防静电处理。采用人体工学设计，可以快速设置调整和简易控制。更换物镜以及调整孔径光阑的控制位于显微镜前面较低的位置，因此用户在使用过程中可始终保持透过目镜观察而无须松开对焦旋钮。电动物镜转盘旋转迅速，在缩短检测间隔时间的同时还可让操作者的手始终在晶圆下方，降低可能存在的污染风险。

应用信息：PCB切片 客户要求和问题：金相表面观察 解决方案及方案内容：奥林巴斯金相显微镜 测试设备： 奥林巴斯金相显微镜+相机+软件+光源 1、客户现场图片: 2.测试结果： 放大500X